我們所談到的微電流，是基于工業(yè)制造，可以大批量生產(chǎn)和應用的微電流測試方案，電流從1mA...100mA交直流信號的采集方案。

   采集直流微電流的方案一般來(lái)說(shuō)*常用的是磁調制制式的直流或直流漏電流測試方案，這也是*常用的一種測試方案，成本較低，抗干擾性能較強，實(shí)際應用效果好，廣泛用于直流屏，也屬于傳統的直流微小電流的測試方案，缺點(diǎn)是，只能測量直流。而且大批量生產(chǎn)控制工藝點(diǎn)較多，產(chǎn)品一致性不高，體積較大，更為重要的是，這種原理的微小電流或直流漏電流的測試，相應時(shí)間和零點(diǎn)穩定性是一對矛盾的參數，相應時(shí)間小于200MS,零點(diǎn)就不穩定，不便于對精度有要求的場(chǎng)合，相應時(shí)間大于200MS。。。500MS左右的，零點(diǎn)較為穩定，但是這么長(cháng)的相應時(shí)間也是很多應用場(chǎng)合所不能接受的，市場(chǎng)上目前的直流漏電流傳感器（磁調制）一般相應時(shí)間都在500MS左右，有的甚至1S；

  基于磁通門(mén)原理的微小電流測試方案，這種方案是交直流通用，目前已經(jīng)大量應用在低壓電器領(lǐng)域，而且正處在市場(chǎng)的上升期，他幾乎填補了磁調制原理的微小電流測試方案所有功能性缺點(diǎn)，體積小，響應時(shí)間快，輸出信號多樣，適合各種MCU的方便采集。缺點(diǎn)是，原理雖然改變了，但是成本卻略有上升，而且還是在結構上還屬于組件式傳感器，過(guò)程控制仍然要求較高，大規模生產(chǎn)，一致性還是存在隱患

  利用磁敏原件和結構件的配合，直接輸出數字信號的微小電流測試方案是未來(lái)的發(fā)展方向，也是我公司致力研發(fā)的主要指導，對于敏感元件和結構件的研究，希望有志之士的同仁給予支持和關(guān)注。

  以下是我公司目前研究方向示意

特別是敏感器件和結構件的方案，感謝各研究所，芯片廠(chǎng)的支持協(xié)作，我相信通過(guò)我們的努力，真正實(shí)現對于微電流測量的工業(yè)級方案早日面世。